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推出WAPI有损测试激励源CT3000
西电捷通 发布时间:2010-12-10 15:04:23

西电捷通推出WAPI无线有损测试激励源CT3000。

CT3000是西电捷通专为满足芯片和设备系统厂商等合作伙伴需要,用于对WAPI无线接入点设备进行开发和测试。

CT3000以无线终端模式,支持对无线接入点进行有损测试,以高度的灵活性、易用性,满足开发者的测试需要。

CT3000可自动构造激励发包过程,模拟异常接入或错误数据报文传输等测试场景,支持运营商MIB网管查询,可用于验证和检测无线接入点WAPI功能的完整性、可靠性和安全性。

CT3000采用高性能硬件嵌入式平台,可工作在2.4GHz或5GHz频段,提供OPEN、WAPI-PSK和WAPI-CERT三种安全类型接入,支持X.509类型,预留有GBW类型,同时支持PKCS#12证书导入。

 
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